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            3D 表面形狀測量系統(tǒng)

            3D 表面形狀測量系統(tǒng)

            產(chǎn)品型號: Profilm 3D

            所屬分類:面包體積測定

            產(chǎn)品時間:2024-09-10

            簡要描述:日本filmetrics 3D 表面形狀測量系統(tǒng)Profilm 3D
            它是一個使用白光干涉技術(shù)的系統(tǒng),可以無接觸地測量包括臺階和粗糙度在內(nèi)的三維形狀。
            Profilm 3D 適用于測量小樣品,涵蓋了測量 3D 形狀所需的所有功能,并且比傳統(tǒng)產(chǎn)品更緊湊、更便宜。

            詳細說明:

            日本filmetrics 3D 表面形狀測量系統(tǒng)Profilm 3D

            它是一個使用白光干涉技術(shù)的系統(tǒng),可以無接觸地測量包括臺階和粗糙度在內(nèi)的三維形狀。
            Profilm 3D 適用于測量小樣品,涵蓋了測量 3D 形狀所需的所有功能,并且比傳統(tǒng)產(chǎn)品更緊湊、更便宜。
            各種測量模式,包括適合高精度測量微米級臺階和形狀的垂直掃描干涉測量法 (WLI) 和適合測量納米級形狀和粗糙度的相移干涉測量法 (PSI)。包括標準步驟樣品在內(nèi)的一切都是標準設(shè)備,包括用于放大物鏡的左輪、自動載物臺以及便于操作、分析和管理測量數(shù)據(jù)的軟件。

            主要特點

            • 低價!
              在配備所有必要功能的同時實現(xiàn)低價
            • 納米級高分辨率
              采用相移干涉法實現(xiàn)高分辨率
            • 全標準設(shè)備
              XY自動載物臺,手動左輪,自動光強調(diào)節(jié),自動對焦功能
            • 緊湊的外殼
              主體的占地面積為 30 x 30 cm 的緊湊設(shè)計。
            • 配備 WLI 和 PSI 兩種測量模式 一臺設(shè)備即可
              測量臺階測量和粗糙度測量
            • 操作
              簡單 基本操作只是簡單的鼠標操作
            • 符合 ISO 標準的粗糙度測量符合
              國際標準 ISO25178
            • 可擴展性
              多種物鏡選擇,數(shù)據(jù)拼接功能

            日本filmetrics 3D 表面形狀測量系統(tǒng)Profilm 3D

            主要應用

            半導體晶圓凸塊、CMP焊盤等
            醫(yī)療領(lǐng)域注射針、人工關(guān)節(jié)、支架等
            安裝板銅線、凸點、透鏡等

            測量規(guī)格?

             垂直掃描白光干涉測量法 (WLI)相移干涉測量 (PSI)
            測量范圍50 納米 – 10 毫米0 – 3 微米
            準確性0.7%——
            再現(xiàn)性0.1%——
            反射范圍0.05% – 100%0.05% – 100%


            設(shè)備規(guī)格

            XY自動載物臺100mm x 100mm
            Z軸驅(qū)動范圍100mm
            壓電驅(qū)動范圍500微米
            掃描速度12微米/秒
            相機2592 x 1944(500 萬像素)
            體重15公斤
             


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