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            日本advance交流光學(xué)法熱擴(kuò)散率測量儀

            日本advance交流光學(xué)法熱擴(kuò)散率測量儀

            產(chǎn)品型號: LaserPIT

            所屬分類:熱擴(kuò)散

            產(chǎn)品時(shí)間:2024-09-09

            簡要描述:日本advance交流光學(xué)法熱擴(kuò)散率測量儀LaserPIT
            該裝置是通過掃描激光加熱AC法用于諸如薄膜,薄板和薄膜的薄板材料的面內(nèi)熱擴(kuò)散率測量裝置。
            在高導(dǎo)熱膜的情況下,也可以測量亞微米薄膜。

            詳細(xì)說明:

            日本advance交流光學(xué)法熱擴(kuò)散率測量儀LaserPIT

            該裝置是通過掃描激光加熱AC法用于諸如薄膜,薄板和薄膜的薄板材料的面內(nèi)熱擴(kuò)散率測量裝置。
            在高導(dǎo)熱膜的情況下,也可以測量亞微米薄膜。

             

            使用

            • 高導(dǎo)熱率薄板材料(厚度<500μm)的熱擴(kuò)散率/導(dǎo)熱率測量,例如CVD金剛石和氮化鋁
            • 各種金屬薄板材料(厚度> 5μm)的熱擴(kuò)散率/熱導(dǎo)率測量,例如銅,鎳和不銹鋼
            • 低熱導(dǎo)率薄板材料(厚度<500μm)的熱擴(kuò)散率/熱導(dǎo)率測量,例如玻璃和樹脂材料
            • 各向異性高導(dǎo)熱石墨片(厚度<100μm),聚酰亞胺,PET和其他聚合物膜(厚度> 5μm)的熱擴(kuò)散率/導(dǎo)熱率測量
            • 測量在玻璃基板上形成的氮化鋁薄膜,氧化鋁薄膜(厚度為100-300 nm)等(厚度為30μm)的熱導(dǎo)率
            • 在玻璃基板(厚度0.03 mm)上形成的DLC薄膜(厚度> 1μm)的熱導(dǎo)率測量
            • 在PET基板上形成的有機(jī)染料薄膜(厚度為100-300 nm)(厚度為0.1 mm)的熱導(dǎo)率測量
            • 評估各種濺射靶材

            特征

            • 從金剛石到聚合物的各種鋼板材料的面內(nèi)熱擴(kuò)散率測量
            • 適用于厚度為3至500μm的各種材料,例如自支撐片材,薄膜,電線和纖維
            • 可以通過微分法測量在基板上形成的厚度為100 nm至1000 nm的薄膜的熱導(dǎo)率*僅在室溫下
            • 可以通過簡單的操作進(jìn)行測量
            • 可以通過專yong軟件進(jìn)行控制,測量和分析
            • 主體緊湊地集成了所有光學(xué),控制和測量系統(tǒng)

            日本advance交流光學(xué)法熱擴(kuò)散率測量儀LaserPIT

            規(guī)格

            模型激光PIT-R激光PIT-M2
            溫度范圍逆時(shí)針室溫?200℃
            交流電激光二極管(685nm,30mW)
            樣品尺寸自支撐薄板:寬度2.5至5毫米x長度30毫米x厚度3至500μm
            基板上的薄膜:寬度2.5至5毫米x長度30毫米x厚度100納米至1000納米
            測量周期0.05?10 /秒
            測量氣氛在真空中

            薄膜的熱導(dǎo)率測定方法(差值法)

            LaserPIT使用玻璃基板來測量薄膜的熱導(dǎo)率。通過僅在一個(gè)玻璃基板的一半表面上形成薄膜的方法來測量玻璃基板的膜形成區(qū)域和非沉積區(qū)域。根據(jù)“兩個(gè)區(qū)域的測量結(jié)果”,“玻璃基板的厚度和體積比熱容”以及“薄膜厚度和體積比熱容”來評價(jià)薄膜的導(dǎo)熱率。



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