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            網(wǎng)站首頁產(chǎn)品展示無損檢測(cè)探傷儀 > FLASH FOCUS日本KJTD體積聚焦相控陣超聲波探傷儀
            日本KJTD體積聚焦相控陣超聲波探傷儀

            日本KJTD體積聚焦相控陣超聲波探傷儀

            產(chǎn)品型號(hào): FLASH FOCUS

            所屬分類:探傷儀

            產(chǎn)品時(shí)間:2024-09-06

            簡(jiǎn)要描述:日本KJTD體積聚焦相控陣超聲波探傷儀FLASH FOCUS
            128通道并行驅(qū)動(dòng)型高速相控陣探傷系統(tǒng)現(xiàn)已上市!
            在過去很難進(jìn)行瑕疵檢測(cè)的特殊環(huán)境中以及在需要瑕疵檢測(cè)速度的特殊環(huán)境中,F(xiàn)lash Focus與超聲波瑕疵檢測(cè)兼容。高速,高精度探傷支持所需的高質(zhì)量保證。

            詳細(xì)說明:

            日本KJTD體積聚焦相控陣超聲波探傷儀FLASH FOCUS

            128通道并行驅(qū)動(dòng)型高速相控陣探傷系統(tǒng)現(xiàn)已上市!
            在過去很難進(jìn)行瑕疵檢測(cè)的特殊環(huán)境中以及在需要瑕疵檢測(cè)速度的特殊環(huán)境中,F(xiàn)lash Focus與超聲波瑕疵檢測(cè)兼容。高速,高精度探傷支持所需的高質(zhì)量保證。

            特征

            多可并行驅(qū)動(dòng)128個(gè)元件

            通過增加同時(shí)使用的元件數(shù)量,提高了光束聚焦能力,并且還增加了掃描圖案。

            線性掃描

            線性掃描

            部門掃描

            部門掃描

            區(qū)域重點(diǎn)

            區(qū)域重點(diǎn)

            動(dòng)態(tài)深度聚焦

            動(dòng)態(tài)深度聚焦

            體積聚焦技術(shù)(專li3704065)

            xin的相控陣技術(shù)可實(shí)現(xiàn)高速,高分辨率的缺陷檢測(cè)。

            可以使用各種探針檢測(cè)缺陷

            除了普通的線性探針,我們還使用矩陣探針和細(xì)間距探傷實(shí)現(xiàn)了更細(xì)的束斑尺寸。通過使用不同的探針可以在各種情況下進(jìn)行檢查。

            線性掃描

            線性探針

            年度矩陣探測(cè)

            年度矩陣探測(cè)

            方陣探頭

            方陣探頭

            日本KJTD體積聚焦相控陣超聲波探傷儀FLASH FOCUS

            音量聚焦技術(shù)

            體積聚焦技術(shù)是我公司開發(fā)的相控陣超聲探傷技術(shù)(專li3704065)。常規(guī)的相控陣掃描方法如下。

            • 對(duì)于線性或扇形掃描,將發(fā)射光束指向一個(gè)方向,并且焦點(diǎn)位于軸的中心
            • DDF或區(qū)域焦點(diǎn)一次聚焦在一個(gè)點(diǎn)上,然后繼續(xù)沿光束移動(dòng)

            另一方面,體積聚焦是一次掃描整個(gè)橫截面(例如樣品體積)的新方法。通過同時(shí)激發(fā)所有元素來創(chuàng)建一個(gè)不分散的平面波。

            每個(gè)平行的元素都從底面,夾雜物,缺陷等處接收反射的脈沖能量。然后,并行數(shù)字硬件處理實(shí)時(shí)創(chuàng)建B掃描和C掃描。

            從概念上講,體積焦點(diǎn)類似于DDF,但體積焦點(diǎn)可以覆蓋所有橫截面或體積,而不僅僅是沿深度軸。

            音量聚焦



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